Рентгенівський дифрактометр Ultima IV Rigaku (Загальноуніверситетський навчально-науковий центр рентгеноструктурного аналізу НТУУ "КПІ"-Ригаку) Використовується для дослідження кристалічної структури матеріалів.

 

 Лабораторія мас-спектрометрії вторинних іонів.

                                      Детальніше ...

 

  

 

 

Трансмісійний електронний мікроскоп (Лабораторія електронної мікроскопії Інженерно-фізичного факультету). Дозволяє досліджувати структуру металів, сплавів та інших об'єктів  при збільшенні до 1 000 000 крат.

 Растровий електронний мікроскоп (Лабораторія електронної мікроскопії Інженерно-фізичного факультету). Дозволяє досліджувати структуру металів, сплавів та інших об'єктів при збільшенні до 200 000 крат.

 

 

 

 Електронний Оже спектрометр

кафедри фізики металів

 

 

 

TOP