Рентгеновский дифрактометр Ultima IV Rigaku (Общеуниверситетский учебно-научный центр рентгеноструктурного анализа НТУУ “КПИ”-Ригаку). Используется для исследования кристаллической структуры материалов.

 

Лаборатория масс-спектрометрии вторичных ионов.

 

  

 

 

Трансмиссионный электронный микроскоп (Лаборатория электронной микроскопии Инженерно-физического факультета). Позволяет исследовать структуру металлов, сплавов и других объектов при увеличении до 1 000 000 крат.

Растровый электронный микроскоп (Лаборатория электронной микроскопии Инженерно-физического факультета). Позволяет исследовать структуру металлов, сплавов и других объектов при увеличении до 200 000 крат.

 

 

Масс-спектрометр вторичных ионов

Кафедры Физики Металлов.

 

 

 

TOP